今天，我想和大家分享一下扫描电子显微镜和透射电子显微镜的区别。以下是这个问题的总结。让我们来看看。
扫描电镜和透射电镜的不同
扫描电子显微镜和透射电子显微镜是常见的电子显微镜，广泛应用于生命科学、材料科学和物理科学。虽然它们都使用电子束来获得高分辨率图像，但它们有一些根本区别。这些差异将在下面描述。
工作原理
扫描电子显微镜和透射电子显微镜的工作原理不同。SEM使用电子束照射样品表面，样品被激发并从样品表面发射二次电子。这些二次电子信号被探测器接收并用于创建样品表面的图像。TEM使用穿过样品的电子束，这些电子束被样品中的原子和分子散射和吸收，形成透射电子。传输的电子穿过样品并进入成像插入物。插入样品中的像差补偿器（CSCs）可校正透射电子的散焦和畸变，最终在样品内部形成高分辨率图像。
成像技术
SEM和TEM成像技术之间也有很大的差异。SEM成像主要依靠二次电子，因此可以提供表面拓扑信息。这些电子被相对较浅的层准确反射，因此SEM对于观察样品表面的形态和纹理非常有用。TEM成像主要依靠透射电子，电子可以穿过样品并观察样品的内部结构和成分。因此，TEM比SEM提供更高的分辨率，更适合观察纳米尺度的材料结构。
样品制备
扫描电镜和透射电镜还有一个重要区别:样品制备。由于SEM需要观察样品的表面，因此通常需要将样品破碎或切割以制备电子显微镜的形状和尺寸。这些样品通常需要涂上或镀上金以增加其导电性，这样它们就可以输出二次电子。TEM要求样品非常薄，以便通过它们传输电子。因此，TEM样品的制备需要使用离子切割机或离子刻蚀机。在这个过程中，材料被移除形成一个巨大的样本，称为薄片。这些薄片需要固定在TEM中使用的栅极上，以便它们可以承受高速传输电子束的辐射。
总之，从工作原理到成像技术再到样品制备，扫描电镜和透射电镜有很多不同之处。因此，在使用这些工具观察样本之前，非常有必要了解它们的优缺点以及它们提供的信息类型。
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